Aplicaciones de interferometría de corrimiento de fase simultáneo

El estudio que se presenta en este libro está basado en técnicas interferometricas de corrimiento de fase para el cálculo de la fase óptica en objetos transparentes, convencionalmente el corrimiento de fase por etapas en interferometria se realiza usando elementos mecánicos u optoelectronicos anclados al sistema para generar corrimientos por etapas y con ello poder calcular la fase óptica; considerando ello se han analizado las ventajas de usar un interferómetro de Michelson acoplado a un sistema 4-f con rejilla de fase y modulado por polarización para estudio de objetos de fase delgada estáticos y dinámicos, esto último se logra obteniendo los corrimientos de fase simultáneos para procesar la fase óptica, en una sola captura de la cámara. Con el sistema desarrollado se pueden obtener 9 réplicas con intensidades comparables en una sola toma de la cámara, lo que permite extraer fase de distribuciones de fase estáticas y variables en el tiempo. Como este sistema se basa en modulación de polarización, está limitado a muestras no birrefringentes o que no cambien el estado de polarización del sistema. Proyecto CONACYT A1-S-20925.