Métrica de idoneidad de ontologías

Métrica de idoneidad de ontologías

Un método para seleccionar la ontología adecuada para sistemas basados en conocimientos

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El método OntoMetric permite a los usuarios medir la idoneidad de las ontologías existentes respecto a las necesidades de sus sistemas. En el texto se realiza una identificación de un marco multinivel de 160 características que deben ser consideradas para evaluar ontologías. Se proporciona el modelo conceptual de una ontología en el dominio de las ontologías, Reference Ontology, que está basada en el marco multinivel de características. Se ha elaborado un método basado en el método de jerarquías analíticas que mide la idoneidad de un conjunto de ontologías candidatas que pueden ser incorporadas en un nuevo sistema. El método ofrece una medida cuantitativa de su idoneidad y sirve para decidir, de forma justificada, qué ontologías son las más adecuadas para el sistema que el usuario va a desarrollar. Se describe también el soporte tecnológico que asiste al método.

Detalles de libro:

ISBN-13:

978-3-639-64617-7

ISBN-10:

3639646177

EAN:

9783639646177

Idioma del libro:

Español

Por (autor):

Adolfo Lozano-Tello

Número de páginas:

244

Publicado en:

26.01.2015

Categoría:

Informática